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Sphere-3000 反射率光譜分析儀
Sphere-3000 反射率光譜分析儀能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球⾯/⾮球⾯器件的相對(duì)/絕對(duì)反射率，適⽤于凸透鏡、凹透鏡、鏡⽚等的鍍膜表⾯反射率測(cè)量，還可進(jìn)⾏有⼲涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量，可應(yīng)⽤于硅晶太陽(yáng)能電池板納⽶級(jí)膜厚檢測(cè)。。
儀器特點(diǎn)
1. 消除背⾯反射光，⽆需進(jìn)⾏背⾯防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測(cè)定表⾯反射率；
2. CIE顏色測(cè)定X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長(zhǎng)等；
3. 顯微測(cè)定微小區(qū)域的反射率，物鏡對(duì)焦于被測(cè)物微小區(qū)域(φ60μm)。
測(cè)試對(duì)象
技術(shù)參數(shù)
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